產品詳情
CBTZ半自動探針臺
CBTZ自動對位探針臺能對晶片實現自動對位測試，
操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能。
與測試儀連接后，能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試 。
CBTZ半自動探針臺
主要技術參數
可測片型：3 寸、 4寸、5寸，6寸、8寸
測試硅片單元尺寸：20—200 mil
定位精度：≤ ±0.01mm/110mm
自動對準精度：±0.01mm
誤測率：≤ 1 ‰
全自動對位時間：≤ 15 s
測試速度 45 mil 5.0 pcs/s
50 mil 4.6 pcs/s
87 mil 4.2 pcs/s
步進分辨率：0.001
Z向行程：0～5mm 可調
承片臺轉角θ調節范圍：±20o
| CBTZ-3100Z型自動對位探針臺能 對晶片實現自動對位測試，操作簡單， 快捷，測試精度高，具有MAP顯示功 能。它與測試儀連接后，能自動完成 對各種晶體管芯的電參數測試及功能 測試 。 |  |
操作方式CBTZ型自動對位探針臺
<span text-align:center;font-size:12px;"="" style="font-family: Arial"> 機器軟件的操作界面 | 除此之外還提供了更加簡潔 方 便的小鍵盤操作方式，操作者可依據 個人偏好和習慣選擇任意種操作 。
功能小鍵盤 |
機器功能具有自動掃描對位功能，對位精度 | 具有圓形測試，范圍重測，探邊 測試，范圍打點，回收測試，矩形測試和脫機打點多種測試功能。  |
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